日前，創(chuàng)譜科技自主研發(fā)的X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀在新加坡國立大學圓滿完成安裝調(diào)試并正式交付使用。這是創(chuàng)譜科技XAFS產(chǎn)品的首個海外項目，標志著創(chuàng)譜科技高端X射線譜學儀器成功邁入國際高校科研平臺，實現(xiàn)了從“國內(nèi)批量交付”到“海外首臺落地”的關(guān)鍵跨越。

XAFS是研究材料局部原子結(jié)構(gòu)和電子態(tài)的核心手段。通過分析材料在X射線照射下的吸收譜，能夠精準獲取特定元素價態(tài)、配位結(jié)構(gòu)、鍵長、配位數(shù)等核心微觀信息，是研究材料科學、催化化學、能源環(huán)境、納米材料等前沿領域不可或缺的工具。